УДК 621.396
Агафонов С.Ю., Дементьев О.В., Сиверс М.А.
Ключевые слова: nanoNET/nanoLOC, точность позиционирования, симметричное двухстороннее двухступенчатое измерение расстояния.
Статья опубликована в № 5 журнала «Электросвязь» за 2012 г.agafonov_i